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ADMS角分辨光譜分析儀
ADMS ⻆分辨光譜分析儀是⼀款可變⻆度的透反射測量光譜分析儀，可快速實現透射/透散射/漫反射/輻射/軟件編譯⾃由⻆度等多種光譜測量模式。適⽤于光⼦晶體/超導材料/超晶格/漫反射等納⽶光學材料的能帶、缺陷等特性研究。在薄膜材料/玻璃/光學元器件等⾏業均可采⽤ADMS⻆分辨光譜分析儀實現光學元器件特定⻆度下透過/透散射/漫反射的過程控制測量，可輸出BRDF\BTDF分布函數。
儀器特點
1. 全角度測量；
2. 超寬光譜范圍光譜測量分析；
3. 多測量模式；
4. ⾼精度智能電機調節；
5. ⾃由編譯測量，⾃動旋轉批量測量；
6. 樣品x、y、z、俯仰、傾斜多維精細調節；
7. 擴展性好：儀器可新增外部激光接口，可裝載光學元件，豐富測量內容。
應用領域
技術參數
