Planum-3000 光學(xué)元件光譜分析儀
Planum-3000光學(xué)元件光譜分析儀⽤于快速測量各類平⾯光學(xué)元件的反射、透射光譜，可進⾏多⻆度絕對反射率、相對反射率、透射率測量，偏振光（S、P、(S+P)/2 ）測量，顏⾊測量等。
儀器特點
1. 可快速測量任意⻆度絕對反射率、透過率；2. 樣品檢測范圍⼴，實時導(dǎo)出樣品數(shù)據(jù)及CIE顏⾊值；3. 光學(xué)⽆損檢測，檢測速度極快，毫秒級。
測量對象
技術(shù)參數(shù)
